Geplaatst op 15-06-2026 in Nieuws.
TIG benchmark beschikbaar voor CE-cijfers
De TIG Benchmark staat nu voor je klaar in de Onderwijs Analyse App. Veel succes met de analyses van jullie examenresultaten!
De uitslagdag is elk jaar weer een bijzonder en spannend voor alle VO-leerlingen, maar zeker ook voor de scholen zelf. Hopelijk hebben jullie veel leerlingen goed nieuws mogen brengen. Hoe is er dit jaar gepresteerd? Tijd om te analyseren én te vergelijken met de TIG Benchmark.
Ook dit jaar komt TIG weer snel na de uitslagdag met een benchmark voor de CE-cijfers. En daar zijn we best trots op. Een paar dagen na de eerste examenresultaten wordt de benchmark vastgesteld, terwijl de Examenmonitor van DUO pas in het najaar via Vensters voor Verantwoording verschijnt. Formeel is de benchmark in het MMP van TIG geen landelijke benchmark, maar in de praktijk blijkt deze wel heel nauwkeurig. Uit onze analyses blijkt dat sinds 2011 de overeenstemming tussen de CE-cijfers van TIG en DUO voor alle schoolsoorten uitstekend is.
Met de TIG Benchmark krijg je inzicht in hoe jouw school presteert ten opzichte van andere scholen. Voor de CE-cijfers zijn er twee benchmarks beschikbaar: per vak en per schoolsoort. In de onderstaande afbeelding zie je, op basis van de benchmark, de ontwikkeling van de gemiddelde CE-cijfers per schoolsoort tot en met dit schooljaar.
Tweede tijdvak
De resultaten voor het tweede tijdvak zijn op dinsdag 30 juni beschikbaar. De benchmark wordt automatisch bijgwerkt en is een dag later, op woensdag 1 juli voor je beschikbaar.
Wil je alles uit de examenresultaten analyses halen?
Sluit dan aan bij onze op donderdag 25 juni van 10.00 tot 13.00 uur. Tijdens deze sessie laat onze collega Erwin Sinnige zien hoe je de verschillende analysemogelijkheden in de Onderwijs Analyse App optimaal benut en deelt hij praktische tips en inzichten. Je leert:
- Overzichten maken van examenresultaten
- Werken met benchmarks en historische data
- Gesprekken voeren over de uitkomsten
- De resultaten plaatsen binnen het inspectiemodel
